當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > > EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測試 > QE-RX光焱科技光伏電池效率損失分析儀
簡要描述：光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽能電池研發(fā)。QE-RX 不僅可以測量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數(shù)據(jù)，還可以通過結(jié)合分析軟件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 損失。光焱在 QE-RX 內(nèi)整合了三種不同的測試功能，并開發(fā)了 SQ-JVFLA 軟件，幫助用戶通過使用 Shockley-Queisser 熱極限理論分析三種不同的損失。QE-RX 是您
產(chǎn)品型號：QE-RX廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-07-22訪 問 量： 5252產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
| 品牌 | Enlitech | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 | Lamp?Wavelength?Range | 300nm~2000nm |
| Measuring?Wavelength?Range | 300nm~1200nm | Jsc?Un-Repeatability | <0.1% |
| Jsc?Uncertainty | <0.15% | Dark?box | 800mmx800mmx920mm |
提升精度的實驗室利器 _ AM1.5G太陽光模擬器搭光伏太陽能電池效率-損失分析解決方案搭載 SPOT-V 光斑觀測器
光斑觀測器 為何能助您科研精進？
·清晰觀察： 在暗室或光線有限的實驗環(huán)境中，也能清晰觀測光斑，確保樣品處于最佳受光區(qū)域。
·簡便易用： 即插即用，無需繁瑣設(shè)置，適用于各種光譜系統(tǒng)，讓您輕松掌握光斑位置。
·多功能應(yīng)用： 無論是微小樣品還是復(fù)雜的光譜實驗，都能提供可靠的觀測支持，幫助您進行精準的實驗設(shè)計和數(shù)據(jù)分析。
·提升效率： 光斑觀測器能有效避免光斑偏移或樣品偏移問題，保障每次測量的準確性，提升實驗效率，降低誤差。
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 的特色如下：
*高度準確且低不確定性
QE-RX 的校準是NIST 可追溯的，這使得 QE-RX 的測試數(shù)據(jù)的不確定性低于任何其他 EQE 測試系統(tǒng)。同時，QE-RX 是由Enlitech 開發(fā)的，Enlitech 擁有 10 年的ISO / IEC 17025 認證的校準實驗室。這使得 QE-RX 對 Si 太陽能電池的測試結(jié)果高度準確。依靠 QE-RX，它將為您提供可靠的結(jié)果。
*結(jié)構(gòu)緊湊但功能多樣
QE-RX 將所有光學(xué)和機械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主體內(nèi)，其中包括電信號采集鎖相放大器。不限于其緊湊的尺寸，QE-RX 仍然提供各種測試數(shù)據(jù)，包括太陽能電池的 EQE、光譜響應(yīng)、反射率和 IQE。緊湊而多功能是 QE-RX 的優(yōu)勢。
*功率損耗分析
QE-RX 結(jié)合 SQ-JVFL 軟件，可以提供最完整的分析功能，包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和帶隙計算。這些參數(shù)是生產(chǎn)產(chǎn)量控制和效率建議的關(guān)鍵因素，這使得 QE-RX 成為光伏行業(yè)的最佳合作伙伴。
．用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接觸、雙面和 TOP-Con 硅太陽能電池
．提供 QE（量子效率）、PV-EQE（外部量子效率）、IPCE（入射光子-電子轉(zhuǎn)換效率）、SR（光譜響應(yīng)）、IQE（內(nèi)部量子效率）和反射率方面的數(shù)據(jù)。
．結(jié)構(gòu)緊湊且重復(fù)性高超過 99.5%。
．波長范圍：300~1200 nm
．Jsc損失分析和報告（使用SQ-JVFLA軟件）。
．職業(yè)損失分析和報告（使用SQ-JVFLA軟件）。
．FF損失分析和報告（使用SQ-JVFLA軟件）。
．提供的EQE不確定度評估報告和經(jīng)ISO/IEC 17025認證的質(zhì)量控制，可用于期刊論文投稿。
．多樣化和定制化的樣品測試裝置。
QE-RX主機功能 | ? 測量波長范圍：300-1200nm （可擴展） ? 各波長測量重復(fù)性：300-390nm 平均不重復(fù)性≦ 0.3%，400-1000 nm 平均不重復(fù)性 ≦ 0.15%。1000-1200nm波長平均不重復(fù)性 ≦ 0.25% ? 短路電流密度不重復(fù)性 ≦ 0.1% ? 準確性<0.1% ? 量測10次計算平均不重復(fù)性 = 相對標準差/平均值* 100% ? 測量時間:300-1200nm，掃描間隔10nm，測量不超過3分鐘 ? 測量暗箱：80cm測量遮罩暗室 ? 適用環(huán)境: 溫度15~35度，濕度20%~65% ? 具備短路電流、開路電壓、填充因素三大損耗分析 |
軟件功能 | ? 絕對光強校正 ? 光譜響應(yīng)測量 ? 外部量子效率測量（EQE） ? 帶寬能隙分析（Bandgap） ? 自動、即時短路電流密度Jsc計算 ? 單波長短路電流自動計算 ? 獨立控制操作整體硬件系統(tǒng)及資料讀取 ? 光譜失配因素計算（MMF） ? 信號監(jiān)控功能 ? 任意AM光譜短路電流密度計算功能 ? 資料保存格式txt | |
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于：
*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太陽能電池效率-損失分析
*IEC-60904-8 光譜響應(yīng)測量
*IEC-60904-7 失配系數(shù)計算
*IEC-60904-1 MMF 校正
*矽太陽能電池加工質(zhì)量控制
*矽太陽能電池帶隙測定
產(chǎn)品咨詢
微信掃一掃