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品牌 | Enlitech | 應用領域 | 電子 |
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全光譜的波長范圍 | 300-1100nm或350-1000nm(PTC) | 動態范圍 | 80dB、100dB或140dB |
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
*無損光學檢測。
*高度準直梁角 /高準直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,<3度 (不同型號)
*高均勻光束點:≥ 99%。
*光的不穩定性≤1%。
*高動態范圍測試能力:80dB~140dB(不同型號)。
*可以測試CMOS圖像傳感器參數。量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動態范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差(LE)、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光響應不均勻性)、CRA。
*全光譜波長范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。
*波長可擴展至1700納米以上。
*DUT 封裝:CIS 模塊,PCB 板級,CIS 攝像頭,有/無微透鏡。
*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協議。
*定制的測試夾具和平臺(手動或自動,最多6軸)。
*功能完整的分析軟件ARGUS®。
*應用:指紋識別(CIS+鏡頭,CIS+準直器,TFT陣列傳感器)CIS的微透鏡設計,晶圓級光學檢測,CIS DSP芯片算法開發,Si TFT傳感器面板,飛行時間相機傳感器,接近傳感器(量子效率,靈敏度,線性度,SNR等),d-ToF傳感器,i-ToF傳感器,多光譜傳感器,環境光傳感器(ALS),指紋顯示(FoD)傳感器。
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的功能很好,因此相關的規格和配件也很齊全。更多細節可再了解。
以下是主要的能力規格:
– 全光譜的波長范圍:300-1100nm或350-1000nm(PTC)
– 波長范圍可以擴展到1700 nm或更高
– 單一波長源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm),或自定義
– 動態范圍:80dB、100dB或140dB
– 測試夾具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平臺:非、手動3軸,或6軸(手動+自動)平臺(可定制)
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于:
*指紋識別(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)
*CIS的微透鏡設計,晶圓級光學檢查
*CIS DSP 芯片的算法開發
*Si TFT 傳感器面板
*飛行時間相機傳感器
*近距離感應器 (量子效率、靈敏度、線性度、SNR等。)
*d-ToF傳感器、i-ToF傳感器
*多光譜傳感器
*環境光傳感器 (ALS)
*指紋顯示(FoD)傳感器
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